来自数据分析的标量-同位旋标量多道共振态的质量与宽度

讨论了从数据中获取宽多道共振态参数的特性，采用基于解析性和幺正性的模型无关方法，并利用均匀化过程，分析了$I^GJ^{PC}=0^+0^{++}$道中$\pi\pi\to\pi\pi,K\bar{K}$过程的实验数据。我们表明，使用粒子数据组(PDG)表中引用的共振参数作为首选，可以从阈值到1.89 GeV获得对$\pi\pi$散射数据的良好描述。然而，在这种情况下，首先，$\pi\pi$背景的表示不令人满意；其次，当仅使用$\pi\pi$散射分析中的共振参数时，耦合过程$\pi\pi\to K\bar{K}$的数据在1.15 GeV以上甚至定性上描述不佳。需要对这些耦合过程进行联合分析，而这一分析已令人满意地完成。然后，与仅分析$\pi\pi$散射相关的上述两个缺陷都得到了修正。与仅$\pi\pi$散射分析的值相比，参数最显著的变化出现在$f_0(600)$的质量上，现在它与基于修补对称性的Weinberg预测以及使用幺正化与共振饱和之间大$N_c$一致性条件的分析在一定程度上一致。当我们局限于$\pi\pi$散射分析或考虑所谓的A解（具有较低的$f_0(600)$介子质量和宽度）时，得到的$\pi\pi$散射长度$a_0^0$与手征微扰论(ChPT)的预测以及CERN的NA48/2合作组从$K_{e4}$衰变分析和DIRAC合作组从$\pi^+\pi^-$寿命测量中提取的数据吻合良好。