利用单扫描电压探针绘制局部薄层电导率与薄层电流密度图
材料科学
2013-09-19 v1
摘要
我们展示了如何使用单个扫描电压探针在无需预先知晓电接触几何形状的情况下，绘制薄膜中的局部电导率和电流密度图。借助最先进的扫描电压探针，在适当条件下，这种绘图应可实现至纳米尺度。该技术需要两次非共线电压扫描。当仅有一个电压图可用时，由于控制方程的解不唯一，无法确定电导率。对该技术的唯一限制是薄层电导率必须是位置的局部函数。
引用
@article{arxiv.1309.4540,
title = {Local sheet conductivity and sheet current density mapping using a single scanning voltage probe},
author = {Weigang Wang and Malcolm R. Beasley},
journal= {arXiv preprint arXiv:1309.4540},
year = {2013}
}