无限电阻网络中的线状缺陷
无序系统与神经网络
2025-09-11 v1
摘要
我们研究了由线状缺陷扰动的无限电阻网络,其中沿单条线定期修改电阻值。通过应用于晶格格林函数的倒数空间表示的谢尔曼-莫里森同一式,我们构建了一个用于计算任意节点间等效电阻的通用分析框架。得到的表达式是一个一维积分,在特殊情况下可精确求解。虽然我们的分析针对方格网络进行,但该方法易于推广到其他晶格几何和具有一般阻抗的网络。因此,该框架对于研究拓扑电路的边界行为具有重要意义,这些电路作为拓扑绝缘体的经典类比。
关键词
引用
@article{arxiv.2509.08445,
title = {Line defects in infinite networks of resistors},
author = {Róbert Németh and József Cserti and Gábor Széchenyi},
journal= {arXiv preprint arXiv:2509.08445},
year = {2025}
}
备注
28 pages, 10 figures