薄膜和细线中的 Johnson-Nyquist 噪声

横向尺寸小于屏蔽长度的细线中的 Johnson-Nyquist 噪声在频率 $D/L^2$ 以下呈白噪声特性，并在更高频率下以 $\omega^{-{1/2}}$ 衰减。在厚度小于屏蔽长度的二维薄膜中，Johnson-Nyquist 噪声在频率 $\sigma_{2D}/L$ 以下与频率无关，并在更高频率下呈现普适的 $1/\omega$ 谱。这些结果与中性和三维带电液体中的传统噪声谱进行了对比。