ZrSiO$_4$ 在辐照下的本征点缺陷与体积膨胀
材料科学
2007-05-23 v1
摘要
我们利用第一性原理密度泛函计算模拟了晶体 ZrSiO 因暴露于辐射而产生的高浓度点缺陷效应。对一系列具有不同电荷态与浓度的本征点缺陷进行了结构弛豫与振动研究。利用天然与人工辐照样品中存在显著各向异性体积膨胀的实验证据，筛选出在所研究浓度下能产生类似晶格膨胀的缺陷子集，即 O 与 Si 间隙原子以及 Zr(Si) 反位缺陷。对间隙原子计算的振动光谱进一步表明，在辐照锆石中存在高浓度的此类缺陷。
引用
@article{arxiv.cond-mat/0404433,
title = {Intrinsic point defects and volume swelling in ZrSiO4 under irradiation},
author = {J. M. Pruneda and T. D. Archer and Emilio Artacho},
journal= {arXiv preprint arXiv:cond-mat/0404433},
year = {2007}
}
备注
9 pages, 7 (color) figures