辐照FBK低增益雪崩探测器的焊盘间死区
仪器与探测器
2022-10-19 v4 高能物理 - 实验
摘要
低增益雪崩探测器（LGADs）是一种具有高掺杂增益层的薄型硅探测器。由Fondazione Bruno Kessler（FBK）制造的LGADs在中子辐照前后进行了测试。在本研究中，使用TCT激光系统测量了焊盘间距（IPDs），其定义为焊盘之间距离的宽度。激光的响应使用来自90Sr源的β粒子进行了校准。这些不灵敏的“死区”是由为防止击穿而设置的保护结构——结终端扩展（JTE）——产生的，该结构将焊盘分隔开。研究了在fluence{1.5}{15}和fluence{2.5}{15}通量下的中子辐射损伤对IPDs的影响。将这些距离与供应商给出的标称距离进行比较，发现较高的通量对应于与标称IPD更好的匹配。
引用
@article{arxiv.2111.12656,
title = {Inter-pad dead regions of irradiated FBK Low Gain Avalanche Detectors},
author = {B. Darby and S. M. Mazza and F. McKinney-Martinez and R. Padilla and H. F. -W. Sadrozinski and A. Seiden and B. Schumm and M. Wilder and Y. Zhao and R. Arcidiacono and N. Cartiglia and M. Ferrero and M. Mandurrino and V. Sola and A. Staiano and V. Cindro and G. Kranberger and I. Mandiz and M. Mikuz and M. Zavtranik and M. Boscardin and G. F. Della Betta and F. Ficorella and L. Pancheri and G. Paternoster},
journal= {arXiv preprint arXiv:2111.12656},
year = {2022}
}