利用散射损耗分析对光学微纳光纤进行原位表征
光学
2024-03-25 v1 量子物理
摘要
我们实验演示了光学微纳光纤（MNFs）的原位表征。将MNF（待测光纤，TF）放置在微光纤（探测光纤，PF）上，并模拟了在不同PF和TF直径下的散射损耗。TF采用化学蚀刻技术制备。PF是外径为125微米的常规单模光纤。我们通过将TF安装在PF上，测量沿TF轴不同位置（即不同直径）的散射损耗。TF的直径分布由测量的散射损耗推断得出，并与其表面形貌测量结果相关联。这项工作展示了一种有效、低成本且无损的方法，用于对制备的微纳光纤（OMNFs）进行原位表征。它可以检测并确定OMNFs表面的不规则性。它还可以用于量化局部倏逝场。检测此类局部点可以改进利用这些场在各种传感及相关研究领域进行的研究。该方法实施简单，可供所有领域的研究人员使用。
引用
@article{arxiv.2402.03400,
title = {In-situ characterization of optical micro/nano fibers using scattering loss analysis},
author = {Shashank Suman and Elaganuru Bashaiah and Resmi M and Ramachandrarao Yalla},
journal= {arXiv preprint arXiv:2402.03400},
year = {2024}
}
备注
17 pages and 5 figure