用于全视场X射线荧光成像的微孔光学器件表征
图像与视频处理
2023-01-25 v1 材料科学
光学
摘要
元素分布图像可通过使用针孔光学或微孔光学（MPO）的步进扫描成像，或通过全视场X射线荧光成像（FF-XRF）获得。用于FF-XRF的X射线光学器件可制造成不同的微通道几何形状，如方形、六边形或圆形通道。每种光学几何形状会产生不同的成像伪影。方形通道MPO由于单个通道内正交通道壁的双次反射而产生高强度中心斑点，这是成像所需的部分，以及仅在一个平面内反射形成的两条垂直相交成十字的线。因此，我们研究了方形通道MPO在FF-XRF成像系统中的性能。该装置由Photonis提供的商用MPO和带有硅探测器的Timepix3读出芯片组成。利用小金属颗粒的荧光成像获得了点扩散函数（PSF）特性。通过测量铜和钛金属碎片的荧光，表征了MPO通道的透射率及临界反射角的变化。由于反射临界角具有能量依赖性，十字臂伪影对不同荧光能量的分辨率影响不同。可根据PSF函数的形式识别金属碎片。利用傅里叶变换可进一步表征PSF函数以抑制图像中的弥散背景信号。
引用
@article{arxiv.2212.10906,
title = {Characterization of micro pore optics for full-field X-ray fluorescence imaging},
author = {Siwen An and David Krapohl and Benny Thörnberg and Romain Roudot and Emile Schyns and Börje Norlin},
journal= {arXiv preprint arXiv:2212.10906},
year = {2023}
}
备注
Submitted to Journal of Instrumentation, presented at 23r International Workshop on Radiation Imaging Detectors