金属-电介质多层膜亚波长成像的多尺度分析
光学
2010-04-08 v2
摘要
使用层状超透镜成像是通过点扩散函数(PSF)表征的空间滤波操作。我们表明，在同一光学系统中，窄亚波长高斯入射场的图像可能与PSF惊人地不同，并且PSF的宽度不是分辨率的直接度量。PSF的半高全宽(FWHM)或标准差提供了关于实际分辨率的模糊信息，并且对小于PSF半高全宽的物体进行成像是可能的。对成像的多尺度分析可以很好地理解亚波长成像特有的尺度相关特性。
引用
@article{arxiv.0908.4532,
title = {Multiscale analysis of subwavelength imaging with metal-dielectric multilayers},
author = {Rafal Kotynski and Tomasz Stefaniuk},
journal= {arXiv preprint arXiv:0908.4532},
year = {2010}
}
备注
3 pages, 5 figures,