通过金属-电介质多层膜实现亚波长分辨率成像的傅里叶光学方法
光学
2010-09-21 v1
摘要
用于亚波长分辨率成像的金属-电介质层状堆栈被视为线性等晕系统——这是傅里叶光学和标量衍射理论中的一个流行概念。在此背景下，层状平板透镜是一个由点扩散函数表征的一维空间滤波器。然而，根据源模型的不同，亚波长分辨率多层膜的点扩散函数的定义可以有多种方式。本文区分了软源与硬电或磁源。这些定义中的每一个都导致完美成像的不同含义。结果表明，对于亚波长分辨率的多层膜，点扩散函数的一些简单解释（如其宽度与成像系统分辨率的关系）是模糊的。在具有亚波长尺寸点扩散函数的层状系统的点扩散函数工程中，必须注意这些差异。
引用
@article{arxiv.1006.3669,
title = {Fourier Optics approach to imaging with sub-wavelength resolution through metal-dielectric multilayers},
author = {Rafal Kotynski},
journal= {arXiv preprint arXiv:1006.3669},
year = {2010}
}