正则化对三维可调结构光照明显微术 (TSIM) 所达分辨率的影响
图像与视频处理
2024-03-22 v1
摘要
我们提出了一项研究，评估了正则化对具有理想可调性的新型三维 (3D) 结构光照明显微术 (3D-SIM) 系统复原结果中所达分辨率的影响。这一贡献是 Tunable SIM (TSIM) 系统通过复原过程的首次性能评估。该研究量化了在由系统参数控制的各种预期分辨率极限下，以及在由广义 Wiener 滤波器（一种计算高效的方法，已成功应用于其他传统 3D-SIM 系统）缓解的不同噪声水平下，由 3D 星状物体的模拟 TSIM 数据复原结果中所达的分辨率。我们表明，在无噪声情况下达到了理论 TSIM 分辨率极限，而随着噪声水平的增加，正则化的必要增加和残余复原伪影分别导致在 20 dB 和 15 dB 数据中轴向所达分辨率降低约 5%-10% 和 20%，这在像素尺寸 (20 nm) 的限制范围内。
引用
@article{arxiv.2403.14035,
title = {Impact of regularization on achieved resolution in 3D tunable structured illumination microscopy (TSIM)},
author = {Arash Atibi and Abdulaziz Alqahtani and Mohammed Younis and Chrysanthe Preza},
journal= {arXiv preprint arXiv:2403.14035},
year = {2024}
}