基于镜像照明的扩展轴向分辨率结构光照明显微镜
光学
2018-10-11 v1
摘要
宽场荧光显微镜虽比共聚焦显微镜快得多，但缺乏光学切片能力且轴向分辨率差。三维结构光照明显微镜（SIM）已被证明可提供光学切片并将可达分辨率在横向与轴向上均提升一倍，但即便如此，其轴向分辨率仍劣于未修改宽场检测的横向分辨率。使用两个高数值孔径物镜的干涉方案，如 4Pi 共聚焦与 I5S 显微镜，已将轴向分辨率提升至横向之上，但代价是光学装置显著更复杂。本文研究一种更简单的双物镜方案，我们提出其可轻易加装到现有 3D-SIM 显微镜上，使用常规荧光团即可提供超过 125 nm 的横向与轴向分辨率。
引用
@article{arxiv.1810.04590,
title = {Structured illumination microscopy with extended axial resolution through mirrored illumination},
author = {James D. Manton and Florian Ströhl and Reto Fiolka and Clemens F. Kaminski and Eric J. Rees},
journal= {arXiv preprint arXiv:1810.04590},
year = {2018}
}