用于超分辨成像的共聚焦结构光照明显微镜：理论与数值模拟
光学
2025-02-27 v2
摘要
超分辨结构光照明显微镜（SR-SIM）是一种广泛使用的技术，用于将荧光成像的分辨率提升至衍射极限以上。现有的大多数 SR-SIM 方法依赖于基于莫尔效应的物理成像模型，这要求在图像重建过程中估计结构光照明参数。然而，参数估计容易出错，常常导致重建图像中出现伪影。为了解决这些局限性，我们提出了超分辨共聚焦结构光照明显微镜（SR-CSIM）。SR-CSIM 的物理模型基于共聚焦成像原理，无需进行结构光照明参数估计。我们构建了 SR-CSIM 成像理论。数值模拟结果表明，SR-CSIM 实现了与 SR-SIM 相当的分辨率，同时减少了伪影。这一进展有望拓宽 SIM 的适用性，为研究人员提供更稳健、更通用的成像工具。
引用
@article{arxiv.2502.17904,
title = {Confocal structured illumination microscopy for super-resolution imaging: theory and numerical simulations},
author = {Junzheng Peng and Jiahao Xian and Xi Lin and Manhong Yao and Shiping Li and Jingang Zhong},
journal= {arXiv preprint arXiv:2502.17904},
year = {2025}
}
备注
22 pages, 9 figures