湿度对 CsI 薄膜演化的影响：粗糙表面的分形研究
仪器与探测器
2018-12-05 v1
摘要
本工作研究了 CsI 薄膜在“刚沉积”和“湿润空气老化 1 小时”情况下的形貌、微结构、成分和分形分析。从透射电子显微镜 (TEM) 技术获得的晶粒尺寸变化范围约为 313 nm 至约 1058 nm。平均晶粒尺寸在暴露于湿度后增加。晶面间距的实验值被发现小于标准值，这表明薄膜中作用有压应力。CsI 薄膜的元素成分已通过能量色散 X 射线光谱 (EDAX) 技术进行了研究。Cs:I (1:1) 的原子百分比在暴露于湿度后增加了两倍。CsI 薄膜的表面形貌在两种情况下均通过原子力显微镜 (AFM) 进行了分析。分形分析在 AFM 显微图像上执行。自相关函数和高度-高度相关函数被用于研究表面的相关特性和粗糙度指数。发现分形维数在暴露于湿度后受到影响。
引用
@article{arxiv.1812.01246,
title = {Humidity effects on evolution of CsI thin Films: Fractal studies of rough surfaces},
author = {Nabeel Jammal and R. P. Yadav and Triloki and R. Rai and A. K. Mittal and B. K. Singh},
journal= {arXiv preprint arXiv:1812.01246},
year = {2018}
}