有限角度计算机断层扫描中条纹伪影的强度如何？
经典分析与常微分方程
2015-06-22 v3
摘要
本文考虑X射线计算机断层扫描中的有限角度问题。常见做法是使用有限数据的滤波反投影。然而，这种做法已被证明会引入沿某些直线的伪影。在这项工作中，我们刻画了这些伪影的强度。
引用
@article{arxiv.1407.3037,
title = {How Strong Are Streak Artifacts in Limited Angle Computed Tomography?},
author = {Linh V. Nguyen},
journal= {arXiv preprint arXiv:1407.3037},
year = {2015}
}
备注
25 pages, no figures. Significant expansion compared to the first version