函数数据基展开的同质性问题及其在阻变存储器中的应用
统计方法学
2024-02-08 v1
摘要
本文考虑了在函数数据情形下，检验两个以上不同样本是否来自同一总体的同质性问题。该方法学结果受到由不同材料和有源层厚度制造的电子器件同质性研究的启发。在与每个样本相关联的随机过程服从正态分布的情况下，该问题被称为函数方差分析问题，并简化为对均值组函数相等的检验（FANOVA）。问题在于，与阻变随机存取存储器（RRAM）相关的电流/电压曲线并非由高斯过程生成，因此需要一种不同的方法来检验同质性。为解决这一问题，提出了两种基于样本曲线基展开的参数和非参数方法。第一种方法包括对样本曲线基系数向量进行多元同质性检验。第二种方法基于使用样本曲线的函数主成分分析（FPCA）进行降维，并对主成分得分向量进行多元同质性检验。采用不同的数值近似技术以使实验数据适应统计研究。通过广泛的模拟研究，分析了参数和非参数情形下两种方法的性能。最后，将所提出的方法论应用于在三种不同 RRAM 技术中测量的三组实验复位曲线样本。
引用
@article{arxiv.2402.04321,
title = {Homogeneity problem for basis expansion of functional data with applications to resistive memories},
author = {Ana M Aguilera and Christian Acal and M Carmen Aguilera-Morillo and Francisco Jiménez-Molinos and Juan B. Roldán},
journal= {arXiv preprint arXiv:2402.04321},
year = {2024}
}