纳米级定义的 Fe STM 探针的高产率电化学刻蚀
介观与纳米尺度物理
2024-11-15 v1
摘要
本文提出了一种可复现的工艺，利用 0.25 mm 铁丝制备具有纳米级定义尖端的 STM 探针。
引用
@article{arxiv.2411.08996,
title = {High-yield electrochemical etching of nanometrically defined Fe STM tips},
author = {Jędrzej Tepper and Jan M. van Ruitenbeek},
journal= {arXiv preprint arXiv:2411.08996},
year = {2024}
}