用于隧穿谱与扫描探针显微镜的各种金属针尖的系统性电化学腐蚀
材料科学
2021-02-01 v1
摘要
硬点接触谱与扫描探针显微镜/谱学是探究具有强可扩展性的材料的强力技术。为支持这些研究,需要具有不同物理与化学性质的针尖。为确保实验结果的可重复性,针尖的制备应当标准化,并应建立可控且便捷的系统。本文提出一种涉及电化学腐蚀反应的系统性方法来制备各种针尖。反应参数分为四类:溶液、电源、浸入深度与中断。我们设计并搭建了一套腐蚀系统,以精确控制这些参数。利用该系统,我们探索并标准化了铜、银、金、铂/铱合金、钨、铅、铌、铁、镍、钴与坡莫合金的腐蚀参数。在这些针尖中,银与铌的新配方被探索并标准化。我们采用光学显微镜与扫描电子显微镜对尖锐针尖进行表征。利用腐蚀后的银针尖开展了相关点接触实验,以确认所制针尖的适用性。
引用
@article{arxiv.2101.07090,
title = {Systematic electrochemical etching of various metal tips for tunneling spectroscopy and scanning probe microscopy},
author = {Jiawei Zhang and Pinyuan Wang and Xuao Zhang and Haoran Ji and Jiawei Luo and He Wang and Jian Wang},
journal= {arXiv preprint arXiv:2101.07090},
year = {2021}
}
备注
The article has been accepted by Review of Scientific Instruments. After it is published, it will be found at https://aip.scitation.org/journal/rsi