用于可解理氧化物扫描隧道显微镜的 Cr 针尖刻蚀

我们报道了一套详细的三步方案，用于制备和表征用于自旋极化扫描隧道显微镜的块体 Cr 针尖。我们的策略独特地规避了对清洁表面或薄膜进行超高真空制备的需求。首先，利用超过 70 个刻蚀针尖的扫描电子显微图像，我们展示了 $ex$-$situ$ 电化学刻蚀参数对 Cr 针尖尖端几何形状的影响。其次，我们描述了层状反铁磁体 La$_{1.4}$Sr$_{1.6}$Mn$_2$O$_7$ 的 $in$-$situ$ 解理表面在评估 Cr 针尖自旋特性方面的适用性，以此替代先前研究中使用的 UHV 制备测试样品。第三，我们概述了一种统计算法，该算法能有效描绘紧密排列或不规则的解理台阶边缘，从而最大限度地提高台阶高度和自旋极化测量的准确性。