用于扫描隧道显微镜和自旋极化扫描隧道显微镜的块体 Cr 探针
材料科学
2007-10-29 v2
摘要
本文提出了一种制备用于扫描隧道显微镜 (STM) 的块体 Cr 探针的简单可靠方法，并研究了其在执行高质量、高分辨率 STM 和自旋极化 STM (SP-STM) 方面的潜力。Cr 探针在有序表面上显示出原子级分辨率。与传统的 W 探针不同，使用 Cr 探针可以常规观察到 Si(111)-7x7 重构的剩余原子，这可能是由于探针尖端的电子结构不同所致。文中报告了对 Cr(001) 表面进行的显示磁衬度的 SP-STM 测量结果。我们的结果表明，这些探针的独特性质适用于多种 STM 实验情境。
引用
@article{arxiv.0709.2615,
title = {Bulk Cr tips for scanning tunneling microscopy and spin-polarized scanning tunneling microscopy},
author = {A. Li Bassi and C. S. Casari and D. Cattaneo and F. Donati and S. Foglio and M. Passoni and C. E. Bottani and P. Biagioni and A. Brambilla and M. Finazzi and F. Ciccacci and L. Duo'},
journal= {arXiv preprint arXiv:0709.2615},
year = {2007}
}