测量长方体形状样品电阻率的四探针方法
材料科学
2015-02-10 v1
摘要
研究了利用四探针技术测量有限尺寸长方体形状各向同性样品电阻率的问题。考察了两种接触排列方案：（1）四个共线探针置于样品一侧，相对于其他侧对称；（2）样品一侧两个探针、对侧两个探针精确置于相对位置且相对于样品其他侧对称（Schnabel 方法）。找到了针对不同电流接触位置下样品内电场势分布问题的解。解以双重级数的形式给出，并给出了其求和的方法。所得结果被推广到电阻率张量具有两个独立分量时各向异性样品电阻率的测量情形。给出了使用所开发的技术通过 Schnabel 方法测量高定向热解石墨此类高度各向异性材料电阻率的实验结果。
引用
@article{arxiv.1502.02600,
title = {Four-Probe Methods for Measuring the Resistivity of Samples in the Form of Rectangular Parallelepipeds},
author = {L. B. Lugansky and V. I. Tsebro},
journal= {arXiv preprint arXiv:1502.02600},
year = {2015}
}
备注
12 pages, 9 figures