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Si/SiO$_2$ 和 Ge/GeO$_2$ 界面悬挂键的第一性原理电子结构计算

材料科学 2010-09-07 v2

摘要

通过第一性原理电子结构计算,探索了 Ge/GeO2_2 界面处 Ge 悬挂键 (DBs) 缺乏清晰电子自旋共振信号的证据。比较 Si/SiO2_2 和 Ge/GeO2_2 界面处 DBs 的电子结构,我们发现 Ge-DB 的电子结构与 Si-DB 显著不同;Ge-DB 态不位于 Ge/GeO2_2 界面的能带隙中,而 Si-DB 态则清晰出现。此外,Ge-DB 态的电荷密度分布比 Si-DB 态更广泛。这些特征通过考虑 Ge/GeO2_2 界面键合网络的金属性质以及由于晶格常数失配导致的 Ge/GeO2_2 界面处 Ge 体材料的结构变形来解释。

关键词

引用

@article{arxiv.0911.5608,
  title  = {First-principles electronic-structure calculation of dangling bonds at Si/SiO$_2$ and Ge/GeO$_2$ interfaces},
  author = {Tomoya Ono and Shoichiro Saito},
  journal= {arXiv preprint arXiv:0911.5608},
  year   = {2010}
}

备注

12 pages