超胞计算中涉及缺陷的垂直跃迁的有限尺寸修正
材料科学
2020-01-29 v4
摘要
我们构建了一种针对采用超胞技术计算的涉及缺陷态的垂直跃迁能级（VTLs）的修正方法，并通过原型材料立方-BN、GaN、MgO 和 3C-SiC 中的十个缺陷系统地验证了其有效性。在任何修正下，大多数情况下使用中等尺寸超胞的绝对误差约为 1 eV。相反，当采用我们的修正方法时，绝对误差减小，并在所有情况下小于 0.12 eV。我们的修正方案具有通用性，并因适用于在固定几何下评估各种量（以广义 Koopmans 定理相关者为代表）而具备广泛应用潜力。
引用
@article{arxiv.1907.02380,
title = {Finite-size corrections for defect-involving vertical transitions in supercell calculations},
author = {Tomoya Gake and Yu Kumagai and Christoph Freysoldt and Fumiyasu Oba},
journal= {arXiv preprint arXiv:1907.02380},
year = {2020}
}