耦合极限环振荡器中时滞诱发死亡现象的实验证据
混沌动力学
2009-10-31 v1
摘要
描述了在一对各自能够展现极限环振荡的耦合非线性电子电路中，时滞诱发振幅死亡的实验观测。特别地，确立了在耦合全同振荡器的耦合强度与时滞参数参数空间中多重连通死亡岛的存在。此类区域的存在早先已在理论上被预言 [Phys. Rev. Lett. 80, 5109 (1998); Physica 129D, 15 (1999)]。实验还揭示了多重频率态的出现、随增加时滞的频率抑制，以及同相与反相集体振荡的发生。
引用
@article{arxiv.nlin/0008039,
title = {Experimental Evidence of Time Delay Induced Death in Coupled Limit Cycle Oscillators},
author = {D. V. Ramana Reddy and A. Sen and G. L. Johnston},
journal= {arXiv preprint arXiv:nlin/0008039},
year = {2009}
}
备注
4 aps formatted RevTeX pages; 6 figures; to appear in Phys. Rev. Lett