通过激子发光成像评估氧化亚铜中的缺陷
材料科学
2015-08-11 v1
摘要
氧化亚铜（Cu2O）中激子的各种衰变机制对可弛豫选择定则的缺陷高度敏感。本文报告了通过浮区法生长的氧化亚铜晶体的低温高光谱激子发光成像，表明样品缺陷很少。然而，某些位置显示出 1s 正交激子三重态极化激元发光的应变分裂。通过退火可减小应变。此外，退火导致氧空位和铜空位湮灭，这使得不同空位的发光之间呈负相关。
引用
@article{arxiv.1412.2707,
title = {Evaluation of defects in cuprous oxide through exciton luminescence imaging},
author = {Laszlo Frazer and Erik J. Lenferink and Kelvin B. Chang and Kenneth R. Poeppelmeier and Nathaniel P. Stern and John B. Ketterson},
journal= {arXiv preprint arXiv:1412.2707},
year = {2015}
}
备注
14 figures in 27 files. In press at the Journal of Luminescence