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通过简单测量估计稀疏度

信息论 2017-07-24 v1 离散数学 math.IT

摘要

我们考虑几个相关的问题,即通过仅观察 b=Mx\mathbf{b} = M \odot \mathbf{x} 来估计长度为 nn 的向量 x\mathbf{x} 中的“稀疏度”或非零元素个数 dd,其中 MM 是独立于 x\mathbf{x} 的预先设计的测试矩阵,运算 \odot 随问题而异。我们旨在以最少的测量数(MM 的行数)为某个常数 Δ\Delta 提供稀疏度的 Δ\Delta-近似。该框架概括了多个问题,例如群体测试和压缩感知中的稀疏度估计。我们使用编码理论的技术以及概率方法证明,当运算 \odot 为逻辑或(即群体测试)时,O(DlogDlogn)O(D \log D \log n) 行是足够的,且几乎同样多数量的行是必要的,其中 DDdd 的已知上界。当运算 \odot 为实数域 R\mathbb{R} 或有限域 Fq\mathbb{F}_q 上的乘法时,我们证明分别需要且仅需 Θ(D)\Theta(D)Θ(DlogqnD)\Theta(D \log_q \frac{n}{D}) 次测量。

关键词

引用

@article{arxiv.1707.06664,
  title  = {Estimation of Sparsity via Simple Measurements},
  author = {Abhishek Agarwal and Larkin Flodin and Arya Mazumdar},
  journal= {arXiv preprint arXiv:1707.06664},
  year   = {2017}
}

备注

13 pages; shortened version presented at ISIT 2017