c轴受限 MoTe$_2$ 中层堆叠无序的出现
材料科学
2022-11-01 v1 介观与纳米尺度物理
摘要
二维材料中的层堆叠序强烈影响其功能特性，并为下一代电子器件带来前景。在块体中，八面体 MoTe 具有两种堆叠排列：外尔半金属 T 相和高阶拓扑绝缘体 1T' 相；然而，目前尚不清楚 MoTe 的薄层状剥离薄片是遵循 T、1T' 还是其他堆叠序列。在此，我们利用透射电子显微镜下的原子分辨率成像解决了这一争议。我们发现 MoTe 薄薄片中的层堆叠高度无序且伪随机，这归因于本征受限效应。相反，与 MoTe 同构且等电子的 WTe 即使在薄层状剥离薄片中也表现出有序堆叠。我们的结果对于理解 MoTe 器件的量子特性十分重要，并表明厚度可用于改变其他二维材料中的层堆叠。
引用
@article{arxiv.2210.16390,
title = {Emergence of Layer Stacking Disorder in c-axis Confined MoTe$_2$},
author = {James L Hart and Lopa Bhatt and Yanbing Zhu and Myung-Geun Han and Elisabeth Bianco and Shunran Li and David J Hynek and John A Schneeloch and Yu Tao and Despina Louca and Peijun Guo and Yimei Zhu and Felipe Jornada and Evan J Reed and Lena F Kourkoutis and Judy J Cha},
journal= {arXiv preprint arXiv:2210.16390},
year = {2022}
}
备注
6 figures, 2 tables