超薄 YCrO3 薄膜的电子性质
材料科学
2018-08-01 v1
摘要
我们报道了在 LSAT (001) 衬底上异质外延稳定生长的 YCrO3 超薄薄膜。利用共振 X 射线吸收谱 (XAS) 与原子多重态团簇计算相结合的方法，研究了 YCrO3 薄膜的电子结构。依赖于偏振的 Cr L3,2 边 XAS 测量揭示了异常轨道极化的存在，这并非 3d3 电子系统的特征。原子多重态计算表明，电荷转移能、库仑关联强度和跳跃相互作用对于稳定这一可能与体相多铁性相关的反常轨道极化态具有关键作用。
引用
@article{arxiv.1804.08579,
title = {Electronic properties of ultra-thin YCrO3 films},
author = {Banabir Pal and Xiaoran Liu and Fangdi Wen and Mikhail Kareev and A. T. N Diaye and P. Shafer and E. Arenholz and Jak Chakhalian},
journal= {arXiv preprint arXiv:1804.08579},
year = {2018}
}