插入微腔的硅纳米结构中的电检测 ESR
介观与纳米尺度物理
2014-03-05 v1 超导电性
摘要
我们展示了新型电检测电子自旋共振技术（EDESR）的首批发现，该技术揭示了由超导体 delta 势垒限制的超窄硅量子阱（Si-QW）中的点缺陷。该技术无需外加谐振腔、高频源和记录器即可进行 ESR 识别，仅需测量磁阻响应；这是通过嵌入 Si-QW 平面内的微腔引起的简正模耦合（NMC）框架内的内部 GHz Josephson 发射实现的。
引用
@article{arxiv.1308.5082,
title = {Electrically-Detected ESR in Silicon Nanostructures Inserted in Microcavities},
author = {Nikolay Bagraev and Eduard Danilovskii and Wolfgang Gehlhoff and Dmitrii Gets and Leonid Klyachkin and Andrey Kudryavtsev and Roman Kuzmin and Anna Malyarenko and Vladimir Mashkov and Vladimir Romanov},
journal= {arXiv preprint arXiv:1308.5082},
year = {2014}
}