平板几何中线扎结对电阻撕裂不稳定性的影响

在约化磁流体力学 (RMHD) 框架内，研究了平板几何中线扎结对电阻撕裂不稳定性的影响。\citep{KadomtsevP1974,Strauss1976} 研究发现线扎结具有致稳作用。当系统长度 $L$ 小于临界长度 $L_{c}$ 时，撕裂模式被稳定，该临界长度与电阻率 $\eta$ 无关。当 $L$ 比 $L_{c}$ 长得不多时，增长率 $\gamma$ 与 $\eta$ 成正比。当 $L$ 足够长时，恢复为撕裂模式的标度律 $\gamma\sim\eta^{3/5}$。从 $\gamma\sim\eta$ 到 $\gamma\sim\eta^{3/5}$ 的转变发生在转变长度 $L_{t}\sim\eta^{-2/5}$ 处。