动态相位显微术：亚纳米尺度平移位移的测量
仪器与探测器
2007-05-23 v1 原子物理
摘要
动态相位显微术已被应用于测量压电扫描器的纳米尺度位移。该扫描器是为扫描探针显微镜和TEM的校准目的而设计的，在0.05-20 nm范围内表现出线性和无滞后的平移。电压激活的运动由系数0.03 \pm 0.005 nm/V描述。
引用
@article{arxiv.physics/0608093,
title = {Dynamic phase microscopy: measurements of translational displacements at sub-nanometer scale},
author = {V. P. Tichinsky and A. V. Kretushev and P. N. Luskinovich},
journal= {arXiv preprint arXiv:physics/0608093},
year = {2007}
}
备注
6 pages, 5 figures