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Y123 中依赖掺杂的涡旋激活能与赝能隙

超导电性 2014-06-06 v1

摘要

温度和磁场依赖的激活能 U(T,H)U(T, H) 是应用超导领域最重要的参数之一,因为它主要决定了临界电流密度和不可逆场。此前,我们通过分析高质量 c 轴取向 Y123 晶体薄膜中依赖磁场的电阻跃迁,确定了依赖掺杂的 U(T,H)U(T, H)(arXiv:1207.4312)。在这篇简短通讯中,我们展示了设定 U(T,H)U(T, H) 量级的特征场 HoH_o 与赝能隙温度 TT^* 之间的直接联系。HoH_o 对面内空穴含量 pp 的强依赖性似乎源于赝能隙能标(以温度表示的 TT^*)随 pp 的演化,这种演化随着空穴浓度的降低而减小了超导凝聚能。

关键词

引用

@article{arxiv.1406.1324,
  title  = {Doping dependent vortex activation energy and pseudogap in Y123},
  author = {S. H. Naqib and R. S. Islam},
  journal= {arXiv preprint arXiv:1406.1324},
  year   = {2014}
}