利用反射抗制薄膜深入银河系：面向天文 CCD 的量子效率提升
天体物理仪器与方法
2025-03-25 v1 应用物理
仪器与探测器
光学
摘要
我们报告了两种反射抗制（AR）薄膜，相较于 currently used on Gaia 星束测量场（AF）CCD 的现有 AR 薄膜，量子效率（QE）显著提高。光作为光学天文学的核心，对于此类任务至关重要，因此用于捕获光的器件 QE 必须 substantially 高。为减少由于 CCD 表面光反射导致的损失，可应用 AR 薄膜。目前，Gaia 卫星的主要组件 AF CCD 使用 Hafnium dioxide（HfO2）AR 薄膜。本文采用 ATLAS 模块的 SILVACO 软件对 AF CCD 像素结构及多种 AR 薄膜进行仿真和研究。我们的发现表明，Zirconium dioxide（ZrO2）和 Tantalum pentoxide（Ta2O5）将为宽带天文 CCD 带来更好的 AR 性能，并为理解银河系的演化开辟了新的研究路径。
引用
@article{arxiv.2503.17570,
title = {Diving deep into the Milky Way using Anti-Reflection Coatings for Astronomical CCDs},
author = {Anmol Aggarwal and Ashi Mittal and George M. Seabroke and Nitin K. Puri},
journal= {arXiv preprint arXiv:2503.17570},
year = {2025}
}
备注
Accepted Version | Published in the Journal of Astrophysics and Astronomy