低温下热发射率测量装置
仪器与探测器
2016-10-05 v1
摘要
在所述装置中,样品的热发射率或吸收率是通过用加热器的热输出替代两个平行表面之间的辐射热流来测量的。在辐射表面温度为25 K至150 K的范围内,可快速测量互发射率。当使用液氦作为制冷液体时,吸收表面的温度在5 K至10 K之间。所需的测量灵敏度对于温度为1 mK,对于热功率为0.1 {\mu}W。整个装置的直径为50 mm,因此可使用商用杜瓦瓶进行冷却。样品的形状为直径40 mm、厚度1 mm的圆板,具有单面测试侧。在应用于低温系统之前,可立即检查各种表面处理下的发射率及其温度依赖性。
引用
@article{arxiv.1610.00967,
title = {Device for measurement of thermal emissivity at cryogenic temperatures},
author = {Tomas Kralik and Pavel Hanzelka and Vera Musilova and Ales Srnka},
journal= {arXiv preprint arXiv:1610.00967},
year = {2016}
}
备注
The eighth Cryogenics 2004 IIR international conference proceedings, Prague, Czech Republic