确定高温超导薄膜中温度依赖的伦敦穿透深度及其对 SQUID 性能的影响
超导电性
2021-09-29 v1
摘要
基于高温超导(HTS)薄膜的高灵敏度超导量子干涉器件(SQUID)及其他器件的最优设计需要精确的电感建模。鉴于微型低噪声单级低温制冷器日益广泛的应用,这不仅需要在 77 K 下,而且需要在任意工作温度下明确伦敦穿透深度 。温度会显著影响任何有源超导器件中的所有电感,冷却至 77 K 以下可大幅改善器件性能,然而文献中基本缺失关于 HTS 器件电感及 温度依赖性的精确数据。本文报道了在 77 K 下对一组 20 个不同薄膜 YBCO SQUID 的电感测量,其厚度 或 113 nm。通过结合实验数据与电感建模,我们发现 77 K 下的平均穿透深度 nm,且与 无关。使用相同方法,我们推导了在低温制冷器上从 50 到 79 K 测量的另外三个 SQUID 的 经验表达式。随后,我们利用测得的 值及电感提取程序来估算具有大垫圈式拾波环的直接耦合 SQUID 磁强计的电感与有效面积。后者与实验测量值吻合度优于 7%,验证了我们的 测量值及电感提取方法。
引用
@article{arxiv.2109.13598,
title = {Determining the temperature-dependent London penetration depth in HTS thin films and its effect on SQUID performance},
author = {Shane Keenan and Colin Pegrum and Marc Gali Labarias and Emma E Mitchell},
journal= {arXiv preprint arXiv:2109.13598},
year = {2021}
}
备注
The following article has been accepted by Applied Physics Letters. After it is published, it will be found at https://doi.org/10.1063/5.0065790