从电导率和塞贝克数据确定 n 型掺杂 C60 层的掺杂效率与迁移率
材料科学
2015-10-28 v1
摘要
在本工作中，我们引入了模型，用于从掺杂有机半导体的电导率数据中推导关键参数（掺杂效率、载流子浓度和载流子迁移率）的下限。这些模型应用于四种不同 n 型掺杂剂掺杂的富勒烯 C60 薄膜层数据。将这些发现与热电塞贝克数据相结合，可以缩小输运能级的能量位置范围，并推导出绝对值的趋势。
引用
@article{arxiv.1410.7119,
title = {Determining doping efficiency and mobility from conductivity and Seebeck data of n-doped C60 layers},
author = {Torben Menke and Debdutta Ray and Hans Kleemann and Karl Leo and Moritz Riede},
journal= {arXiv preprint arXiv:1410.7119},
year = {2015}
}