利用磁力显微镜检测非磁性金属薄膜
应用物理
2018-12-31 v2 介观与纳米尺度物理
摘要
磁力显微镜（MFM）可检测磁性材料周围的杂散磁场并对这些场进行二维可视化。本文给出 MFM 探针在非磁性金属薄膜上方振荡的理论分析。结果与通过改变探针高度获得的实验数据吻合良好。此处分析的现象可用作纳米尺度的“金属探测器”以及方阻的非接触测量。检测灵敏度作为振荡频率的函数得到，从而可确定相移测量的最佳频率。还讨论了因非磁性金属存在而引起的共振频率偏移。
引用
@article{arxiv.1812.03270,
title = {Detection of nonmagnetic metal thin film using magnetic force microscopy},
author = {Fujio Wakaya and Kenta Oosawa and Masahiro Kajiwara and Satoshi Abo and Mikio Takai},
journal= {arXiv preprint arXiv:1812.03270},
year = {2018}
}
备注
4 pages, 5 figures