石墨烯与 MoS2 纳米片磁力显微镜响应中的电学贡献
介观与纳米尺度物理
2015-03-05 v1 材料科学
摘要
最近在机械剥离的整片石墨烯和二硫化钼 (MoS2) 纳米片上检测到了磁力显微镜 (MFM) 信号，并基于这些观测声称这两种纳米材料具有磁性。然而，非磁性相互作用或伪影通常与 MFM 信号相关，这使得 MFM 信号的解释并不简单。已进行系统研究以检查石墨烯和 MoS2 纳米片 MFM 信号的可能来源，以及 MFM 信号是否与磁性相关。研究发现，正如电力显微镜 (EFM) 和扫描 Kevin 探针显微镜 (SKPM) 分析所证明的，MFM 信号由于纳米片与导电悬臂尖端之间的电容和静电相互作用而具有显著的非磁性贡献。此外，石墨烯和 MoS2 纳米片的 MFM 信号对磁悬臂尖端的反向磁场没有响应。因此，观测到的 MFM 响应主要来自由电学伪影，且不足以与石墨烯和 MoS2 纳米片的磁性相关联。
引用
@article{arxiv.1503.01292,
title = {Electric Contributions to Magnetic Force Microscopy Response from Graphene and MoS2 Nanosheets},
author = {Lu Hua Li and Ying Chen},
journal= {arXiv preprint arXiv:1503.01292},
year = {2015}
}
备注
With Supporting Information