低温扫描隧道显微镜与谱学观测的LiFeAs缺陷态
超导电性
2018-06-12 v1
摘要
我们利用低温扫描隧道显微镜与谱学（STM/STS）对化学计量比LiFeAs中频繁观测到的杂质诱导态进行了微观研究。我们的数据揭示了七种在形貌测量中可辨别的清晰不同的缺陷。根据其局域形貌对称性，我们能够将五种缺陷类型归属于Li、Fe和As位置上的特定晶格位。最显著的结果是两种不同缺陷类型对超导态有显著不同的影响。一种特定且相当丰富的具有对称性的Fe缺陷产生了显著的杂质诱导附加态，主要位于正偏压处，在约4~mV和12~mV的在位局域态密度（LDOS）处有突出峰。另一方面，一个对称的As缺陷导致在正和负偏压处LDOS均显著增强。我们期望这些发现为进一步实验和理论研究阐明LiFeAs中超导性本质提供新输入。
引用
@article{arxiv.1603.07777,
title = {Defect states in LiFeAs as seen by low temperature scanning tunneling microscopy and spectroscopy},
author = {R. Schlegel and P. K. Nag and D. Baumann and R. Beck and S. Wurmehl and B. Büchner and C. Hess},
journal= {arXiv preprint arXiv:1603.07777},
year = {2018}
}