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离子注入MgO晶体中缺陷调制的能带修饰:实验与第一性原理计算

材料科学 2022-02-15 v1

摘要

缺陷的产生与湮灭是器件制备中的基本概念。本报告研究了通过 MeV Ni 离子辐照在MgO的价带与导带间诱导缺陷态所引起的光学带隙修饰。对MgO单晶的离子注入产生了替代缺陷态以及 F(阴离子空位中心)、F2F_2、其他氧空位中心和 V(阳离子空位中心)中心,这由吸收和光致发光光谱证实,可应用于基于价电荷存储的阻变随机存取存储器中的灯丝。光学带隙随Ni离子注量的变化通过修饰电子能带结构得以确定。密度泛函理论(DFT)计算有助于理解包含MgO结构的空位与替代缺陷的电子能带结构演化。

关键词

引用

@article{arxiv.2202.06849,
  title  = {Defect Modulated Band Modification in Ion Implanted MgO Crystal: Experimental and Ab Initio Calculations},
  author = {Sourav Bhakta and Subhadip Pradhan and Ashis K. Nandy and Pratap K. Sahoo},
  journal= {arXiv preprint arXiv:2202.06849},
  year   = {2022}
}