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Bi₂Sr₂CuO₆₊δ 薄膜中电流相关的漂移

超导电性 2009-11-11 v1

摘要

测量了 Bi₂Sr₂CuO₆₊δ 薄膜中多余导电性随电流的变化,电流达到约等于 Tc 的 3 倍,作为掺杂剂的函数。发现其对输运电流异常敏感,并在整个掺杂范围内表现为 T/TcT/T_c 的普适函数。我们在具备无能隙类似行为的颗粒超导体的视角下讨论这些结果。

关键词

引用

@article{arxiv.cond-mat/0505271,
  title  = {Current dependent fluctuations in a Bi$_2$Sr$_2$CuO$_{6+\delta}$ thin film},
  author = {I. Sfar and Z. Z. Li and F. Bouquet and H. Raffy and L. Fruchter},
  journal= {arXiv preprint arXiv:cond-mat/0505271},
  year   = {2009}
}