估算超导薄膜和界面的临界动力学及厚度的工具
超导电性
2015-05-13 v1 材料科学
摘要
我们证明，在转变温度下测量的电导率的磁场依赖性可以确定动力学临界指数、超导薄膜和界面的厚度以及极限横向长度。由此产生的工具被应用于非晶态Nb0.15 Si0.85薄膜和LaAlO3/SrTiO3界面的电导率数据。
引用
@article{arxiv.0906.3990,
title = {A tool to estimate the critical dynamics and thickness of superconducting films and interfaces},
author = {T. Schneider},
journal= {arXiv preprint arXiv:0906.3990},
year = {2015}
}
备注
6 pages, 6 figures