Fe/W(110) 双层薄膜中临界磁导指数的测量
凝聚态物理
2009-11-10 v1
摘要
对铁基铬磁超薄 Fe/W(110) 薄膜的临界相变进行了磁化交流导率研究。采用统计上客观且不受约束的拟合方法，对磁导率进行拟合，以提取临界指数 (gamma)、临界温度 Tc、临界振幅 (chi_0) 以及呈现幂律行为的温度范围。使用拟合算法同时最小化对单个实验测量 chi(T) 幂律拟合的统计方差。这避免了系统误差并生成客观的拟合结果。对 25 组多个不同薄膜的测量进行了分析。那些在约化温度下小于约 0.00475 时允许扩展拟合范围的测量给出平均值 gamma=1.76±0.01。双层薄膜给出加权平均值 gamma=1.75±0.02。这些结果与 2 维 Ising 指数 gamma=7/4 一致。那些在 Tc 附近不呈现幂律标度的测量（尤其是厚度为 1.75ML 的薄膜）显示 gamma 值高于 Ising 值。考虑了几种解释这种行为的可能性。
引用
@article{arxiv.cond-mat/0308294,
title = {Critical Susceptibility Exponent Measured from Fe/W(110) Bilayers},
author = {M. J. Dunlavy and D. Venus},
journal= {arXiv preprint arXiv:cond-mat/0308294},
year = {2009}
}
备注
-Submitted to Phys. Rev. B -Revtex4 Format -6 postscript figures