用激发态平均场与微扰理论计算核心激发

我们测试了激发态平均场理论及其激发态专属微扰理论在预测K边位置和X射线峰分离上的效能。我们发现平均场理论出奇地准确，尽管其未考虑微分电子关联效应。在微扰理论中，我们测试了多种核-价分离方案，发现由于平均场理论已如此准确，某流行分离方案中的电子计数偏置在预测K边时成为主导误差。令人欣慰的是，这些似乎相对容易修正，从而得出一种关于K边位置的微扰理论，其计算标度更低且比耦合簇理论更准确，并与受限开壳层Kohn-Sham理论近期的高精度结果精度相当。对于峰分离，我们的初步数据显示激发态平均场理论异常准确，但需更广泛测试以考察其及其微扰理论与耦合簇峰分离的普遍比较。