通过 X 射线反射光谱约束 Kerr 参数

在最近的一篇论文 [Ghasemi-Nodehi & Bambi, EPJC 76 (2016) 290] 中，我们提出了一种新的参数化方法来检验天体物理黑洞候选体的 Kerr 性质。在本工作中，我们研究了利用 X 射线反射光谱（即所谓的铁线法）约束我们提出的“Kerr 参数”的可能性。我们模拟了未来 eXTP 任务搭载的 LAD 探测器的观测，假设曝光时间为 200 ks。我们拟合模拟数据以检验 Kerr 参数是否可被约束。如果我们拥有正确的天体物理模型，LAD/eXTP 的 200 ks 观测可以约束除 $b_{11}$ 以外的所有 Kerr 参数，因为 $b_{11}$ 对铁线轮廓的影响极弱，其测量极具挑战性。