铁 K 轴线作为评估黑洞参数的工具

最近的 X 射线观测揭示了微类星体和塞伊弗特星系的光谱中出现宽发射线，这些发射线可来自于盘的内部区域。模拟表明，在低倾角下，这条线被远距离观察者测量为特征的两峰轮廓。然而，在高倾角（> 85°）时，会出现两个额外的峰。该现象由 Matt 等人于 1993 年发现，他们使用 Schwarzschild 黑洞度规进行分析。他们假设该效应适用于 Kerr 度规，但超出了他们所探索的参数范围。我们检验并确认了关于 Kerr 度规下此结构的假设。我们对辐射区的物理结构不作天体物理学假设，仅假设该区域足够狭窄。这些额外峰的位置和高度极大地取决于辐射区（环状）的径向坐标和倾角。我们发现，这些额外峰是由于在强引力场中的引力透镜效应造成的，即由围绕黑洞经若干圈数次的光子形成。这一结论仅基于相对论计算，不依赖于类似 X 射线面辐射率等盘的物理参数。我们讨论了如何通过分析铁光谱线轮廓获取关于黑洞视界附近磁场上限的信息。