利用连续谱拟合和铁线法测量非克尔致密天体的克尔自旋参数

在假设天体物理黑洞候选者为广义相对论中的克尔黑洞的前提下，连续谱拟合方法和 K$\alpha$铁线分析是目前唯一能够提供这些天体自旋参数相对可靠估计的技术。如果我们放宽克尔黑洞假设并尝试检验黑洞候选者的本质，我们会发现自旋测量与偏离克尔解的可能性之间存在强相关性。具有自旋参数 $a_*$的克尔时空所发射的辐射特性，确实与围绕具有不同自旋的非克尔天体发射的辐射特性非常相似，实际上无法区分。在本文中，我探讨了是否可以通过对同一对象同时使用连续谱拟合方法和 K$\alpha$铁线分析来测量克尔自旋，并在结果一致的情况下断言该黑洞候选者具有克尔性质。在本工作中，我考虑了两种非克尔度规，答案似乎取决于具体的背景。这两种技术可能提供非常相似的结果（Bardeen 度规的情况），也可能显示出差异（Johannsen-Psaltis 背景）。