利用X射线反射光谱学与有限厚度薄盘模型检验Kerr黑洞假设
高能天体物理现象
2020-08-18 v2 广义相对论与量子宇宙学
摘要
X射线反射光谱学是探测黑洞强引力区并可用于检验强场情形下广义相对论的有力工具。现有相对论反射模型的简化限制了精确测量黑洞性质的能力。在本文中，我们给出了RELXILL_NK模型的扩展，其中吸积盘具有有限厚度而非无限薄。我们采用Taylor与Reynolds（2018）提出的吸积盘几何，并针对黑洞的不同质量吸积率构建了相对论反射模型。我们将新模型应用于X射线双星GRS 1915+105的高质量Suzaku数据，以探究盘厚度对Kerr度规检验的影响。
引用
@article{arxiv.2003.09663,
title = {Testing the Kerr black hole hypothesis using X-ray reflection spectroscopy and a thin disk model with finite thickness},
author = {Askar B. Abdikamalov and Dimitry Ayzenberg and Cosimo Bambi and Thomas Dauser and Javier A. Garcia and Sourabh Nampalliwar and Ashutosh Tripathi and Menglei Zhou},
journal= {arXiv preprint arXiv:2003.09663},
year = {2020}
}
备注
19 pages, 14 figures. v2: refereed version