吸积盘厚度对X射线反射光谱测量的影响
高能天体物理现象
2021-06-07 v2 广义相对论与量子宇宙学
摘要
在之前的一篇论文中，我们提出了反射模型RELXILL_NK的扩展，按照Taylor & Reynolds (2018)的方案纳入了吸积盘的有限厚度。在本文中，我们将该模型应用于拟合NuSTAR和XMM-Newton在2013年对MCG-06-30-15中超大质量黑洞的同步观测，以及NuSTAR在2019年对EXO 1846-031中银河系黑洞的观测。这些光谱的高质量数据此前已带来精确的黑洞自旋测量，并对可能偏离Kerr度规的情况给出了非常严格的限制。我们发现，吸积盘厚度并未改变采用无限薄吸积盘模型所得出的先前自旋结果，这证实了在高辐射效率吸积盘中自旋测量的稳健性，因为在此类盘中盘厚度的影响极小。对低吸积率系统的类似分析，将是衡量盘厚度对黑洞自旋测量影响的一项重要检验。
引用
@article{arxiv.2102.04695,
title = {Impact of the disk thickness on X-ray reflection spectroscopy measurements},
author = {Ashutosh Tripathi and Askar B. Abdikamalov and Dimitry Ayzenberg and Cosimo Bambi and Honghui Liu},
journal= {arXiv preprint arXiv:2102.04695},
year = {2021}
}
备注
16 pages, 9 figures. v2: refereed version