利用X射线反射光谱学实现吸积黑洞的精密测量
高能天体物理现象
2021-07-21 v3 广义相对论与量子宇宙学
摘要
相对论反射特征在吸积黑洞的X射线光谱中常被观测到。在拥有高质量数据且采用正确天体物理模型的情况下，X射线反射光谱学可以成为一种强有力的工具，用于探测强引力区、研究吸积物质的形态、测量黑洞自旋，并有可能在强场 regime 检验爱因斯坦的广义相对论。在过去十年中，由于更复杂的天体物理模型和新的观测设施，这些特征的分析取得了显著进展。本文回顾了相对论反射建模的最新水平，列出了可能在某种程度上影响最终测量、且未来可进一步研究的假设与简化。我们回顾了黑洞自旋测量以及近期利用X射线反射光谱学检验基础物理的努力。
引用
@article{arxiv.2011.04792,
title = {Towards precision measurements of accreting black holes using X-ray reflection spectroscopy},
author = {Cosimo Bambi and Laura W. Brenneman and Thomas Dauser and Javier A. Garcia and Victoria Grinberg and Adam Ingram and Jiachen Jiang and Honghui Liu and Anne M. Lohfink and Andrea Marinucci and Guglielmo Mastroserio and Riccardo Middei and Sourabh Nampalliwar and Andrzej Niedzwiecki and James F. Steiner and Ashutosh Tripathi and Andrzej A. Zdziarski},
journal= {arXiv preprint arXiv:2011.04792},
year = {2021}
}
备注
64 pages, 23 figures. Prepared within the ISSI International Team project "Can We Use X-Ray Reflection Spectroscopy For Precision Measurements Of Accreting Black Holes?". v3: refereed version